“可測試*”造句，怎麼用可測試*造句

本文從可測試*設計的角度出發，討論了測試綜合技術的必要*，以及測試綜合的方法與步驟。

可測試*與可行*直接相關，並且很可能找到很難測試的高層次需求。

結果表明，多訊號流圖測試*建模方法在產品的可測試*設計應用中可行、有效。

GET方案更優雅，並且在可測試*上更突出，人們可以使用瀏覽器通過完整的URL完成測試。

此外，發現用二進計數序列作為測試輸入對於差錯特徵量可測試*設計有一定優點。

因此必須確定滿足您的SOA活動的所有可測試*需求的基礎結構。

儘管某些安全*和可測試*方面可以建模為策略，但並非所有都可以這樣處理。

事情像以前一樣工作，但是工作得更好，主要是因為增強的可測試*或者明顯的*能提升。

如果不滿足可測試*需求，整個SOA活動可能會由於系統不能繼續正確工作而崩潰。

在可測試*設計會考慮功耗的主要原因是數位電路在測試方式下的功耗比系統在正常工作方式下高很多。

質量標準：功能*、可用*、安全*、*能、相容*、可測試*、可支援*，等等。

實踐*，這些技術可以顯著提高自動測試系統軟體的可測試*。

目地在於滿足系統的高可靠*、可測試*和高安全*的設計要求。

有時候策略與SOA活動的安全*及可測試*會產生混淆。

本文提出了一種離散餘弦變換電路VLSI實現的可測試*設計。

使用者還可能會審視實際的架構、仔細審閱其可測試*、可維護*、設計完整*、可複製*、避免獨佔等等。

可測試*：系統進行模組測試、子系統測試、系統測試等測試時，設定測試點的技術。

可測試*對SOA非常重要，因為有時候必須在生產系統上執行測試。

幾年來我一直建議開發人員使用DI，因為它提高了可維護*、可測試*和靈活*。

Allen說明了版本化資料庫的目的就是為了能保*所做的改變能保持一致*、可控*、可測試*和可重現*。

本文針對軟體可測試*的量化檢測給出了一套完整的解決方案。

例如，需求可能迅速地變更，這可能會破壞可測試*或測試成本設想。

掃描技術和邊界掃描技術是目前可測試*設計的主流技術，可分別用來解決晶片內部與晶片之間的可測試*問題。