“*線衍*”造句，怎麼用*線衍*造句

用掃描電鏡、能譜和X*線衍*測試其微觀結構。

採用X*線衍*方法精確測定鎢粉和鈷粉的點陣常數。

但是對於喹吖啶*的一些衍生物，很難形成單晶，也就無法用X*線衍*來表徵其結構。

根據*氧化鎳電極材料的x*線衍*譜線的各向異*寬化特*，提出層錯結構表徵方法。

用X光電子能譜、X*線衍*、紫外可見吸收光譜、原子力顯微鏡等手段對製備的薄膜進行了表徵。

用X*線衍*儀、光學金相顯微鏡、透*電鏡和掃描電鏡研究了磁體的結構； 用磁強自動記錄儀測量了磁體的退磁曲線。

用X-*線衍*、電漿發*光譜法對來源於九個不同產地的礦物*禹餘糧作了較為全面的分析與研究。

產品通過X*線衍*(XRD)、掃描電鏡(sem)、能譜儀(EDS)測試，說明塊料直接煅燒法生產的方石英具有轉化率高、加工*能好、成本低等特點。

採用偏光顯微鏡研究沉積熱解炭的組織結構；用X*線衍*儀研究C/C複合材料的石墨化度和微晶尺寸；

利用雙晶X*線衍*技術測試了外延層，確定外延層的組分與晶體質量，並利用二次離子質譜儀進行了縱向組分分佈剖析，利用擴充套件電阻儀確定外延層的電學特*。

X*線衍*及透*電子顯微鏡來表徵。

本發明提供了一種無定形頭孢地嗪*，該無定形的X-*線衍*圖中未出現X-*線衍*峰；

合成的碳化鈦粉體用X—*線衍*儀及透*電鏡表徵。

用掃描電鏡、透*電鏡、X*線衍*、接觸角測量等技術對錶面進行了表徵。

採用X*線衍*法研究溫水浸漬法脫膠和酶法脫膠過程中亞麻纖維結晶度、取向度的變化情況。

本文提出了一個採用傅立葉級數合成方法分析X*線衍*線形來確定金屬多晶體中晶塊尺寸及微畸變的方法。

利用金相顯微鏡、X*線衍*儀、電子探針及滑動磨損試驗機，研究了合金熔覆層的顯微組織及*能。

用X*線衍*表徵樣品的結構。

其中透*電鏡觀察法和X*線衍*線寬法由於技術成熟，是現在奈米顆粒測試的主要方法；

採用X-*線衍*儀、透*電鏡研究了可鍛鑄鐵白口組織中矽對共晶滲碳體點陣引數、晶胞體積及晶體缺陷的影響。

Rodney J.B. 教授 ：1971佛羅里達大學博士。研究方向是物理化學和量子化學,包括預測分子的勢能表面,通過X-*線衍*的方法測定半導體的結構,雜環和高分子的動力學。

用x*線衍*、x*線光電子能譜、x*線電子探針、紅外光譜等方法對分子篩進行了結構研究，並用階梯掃描方法測得其晶胞引數。

X*線衍*鑑定均為單一相鈣鈦礦型氧化物。

用x -*線衍*法研究了聚*基*烯*對豬皮的鞣製機理，並對其與聚*烯*鞣劑的鞣製效果進行了比較。