“X*線光電子能譜儀”造句，怎麼用X*線光電子能譜儀造句

用X*線光電子能譜儀(XPS)研究了仿製的銅紅袖的著*機理。

並採用掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡和X*線光電子能譜儀分析了薄膜的形貌和組成。

用掃描電子顯微鏡（SEM）和X*線光電子能譜儀（XPS）對鋼球磨損表面進行了分析。

探測效率是X*線光電子能譜儀一個很重要的儀器引數。

採用掃描電子顯微鏡（SEM）、X*線光電子能譜儀（XPS）、傅立葉紅外光譜儀（IR）對盤上磨痕進行表面分析。

薄膜的鍵結構採用X*線光電子能譜儀（XPS）分析，奈米結構採用高解析度透*電子顯微鏡（HRTEM）分析。

使用時間飛行二次離子質譜儀(TOF-S IM S)、X*線光電子能譜儀(XPS)、原子力顯微鏡(AFM)和接觸角測量儀對FTE自組裝膜進行了表徵。

採用掃描電子顯微鏡(sem)、X*線光電子能譜儀(XPS)、傅立葉紅外光譜儀(IR)對盤上磨痕進行表面分析。

採用X*線衍*法（XRD）、掃描電子顯微鏡（SEM）和X*線光電子能譜儀（XPS）對薄膜進行了表徵與分析。

用掃描電子顯微鏡(sem)和X*線光電子能譜儀(XPS)對鋼球磨損表面進行了分析。